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界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
蔡司OptiRecon
以快速、的算法为基础,在您的电脑桌面上操作即可进行迭代重建,使您的扫描时间提升至高达4 倍的速度,或在同样的通量下改善图像质量。OptiRecon 是一个经济的解决方案,可以为广泛的样品类别提供出色的内部断层扫描成像质量或快速的成像速度。
蔡司XRM 以其特的性能让的原位实验得以实现。这些研究要求样品远离X 射线源,以安放各种类型的原位装置。在传统的微米CT 系统中这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司X 射线显微镜采用特的两级放大架构和大工作距离高分辨率(RaaD)技术,确保高分辨率原位成像
您可以为所有的蔡司Xradia Versa 仪器选配原位接口套件,包括机械集成套件、坚固的布线导槽和其它设施(馈入装置),以及基于测试规程的软件,它能够简化蔡司“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan)用户界面中的操作。在蔡司Xradia Versa 上体验原位装置高水平的稳定性、灵活性和集成控制,得益于其光学架构设计,在变化的环境条件下不会牺牲分辨率。
北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料研究分析设备的研发和应用。的团队,专精的服务,提供理想的解决方案。
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北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料分析,助力科研机构实现分析。通过对行业的深入剖析,瑞科中仪科技有限公司工作人员已掌握和具备半导体材料分析研究的基本素质,可以根据各领域用户的实际需求为用户提供的解决方案。
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我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理,为高校、企业科研工作者提供的分析解决方案。以技能为导向,用科技来解决用户在科研中遇到的难题。的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流,打消顾虑,彼此协作,为我国的科研领域谱写新篇章。
北京瑞科中仪科技有限公司长期代理销售供应多种分子材料的研究分析设备,其中包括但不限于扫描电子显微镜、感应耦合等离子体化学气相沉积系统、离子束刻蚀机、等离子清洗机、物理气相沉积系统以及各品牌的光学显微镜以及实验室设备仪器。
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