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全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。 谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。
铁精粉光谱仪通常采用光学原理，包括可见光、红外光和紫外光等波长范围。它通过将样品暴露在特定波长的光下，测量样品对光的吸收、散射或发射等特性，然后根据这些特性获得样品的光谱信息。利用铁精粉光谱仪，可以对铁精粉样品的化学成分、晶体结构、杂质含量和物理性
铁矿石光谱仪通常采用光栅光谱仪或干涉光谱仪的原理。样品通过样品室或探头被照射光源照射，样品会吸收特定波长的光，而其他波长的光则被反射或透射。这些吸收、反射或透射光会被光谱仪接收并分析。
