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天瑞 |
小功率端窗一体化微型光管,大面积铍窗SDD硅漂移探测器（世界上较好的探测器）及微型数字信号多道处理器三大核心技术的引入,大幅降低测试时间,提高检测精度,减少测试误差,使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。小巧便携,操作快捷体积很小,便携,方便野外工作。随时随地,随心所欲的现场分析和原位分析。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品,可直接在待测物表面进行测定,可分析任何样品类型,包括电子电器产品,合金样品,地质矿产,土壤,岩石,泥土,残渣,固体小颗粒,液体沉积物等。
高清摄像头检测更加准确
内置高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置,这一点情况在RoHS,地矿样品中犹为重要。
偏差校正轻松到位
2016年10月，工业和信息化部发布了三项机械行业标准，分别为JB/T 12962.1-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》（以下简称“三项标准”）。三项标准将于2017年4月1日正式实施。这三项行业标准均由天瑞仪器起草撰写。
